產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
光耦參數(shù)分析儀用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設置數(shù)據(jù).
詳情介紹：
光耦參數(shù)測試儀型號：JFY3010A
詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀，是一種**門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用方便,適用電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應商來料檢測。
※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數(shù):
參數(shù)指標表:
|
參數(shù)項 |
測試參數(shù) |
測試條件設置 |
|
輸入正向壓降(VF) |
0-2.000V |
0-400MA |
|
耐壓(BVCEO) |
0-1200V |
0-2.000MA |
|
傳輸比(CTR) |
0-3000 |
VCE:0-20V IC:0-2.000A |
|
飽和壓降(Vsat) |
0-2.000V |
IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
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