產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
光耦參數(shù)測試儀型號：JFY3010A
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀詳細(xì)介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀
詳情介紹：
光耦參數(shù)測試儀型號：JFY3010A
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀詳細(xì)介紹
※概述:光耦參數(shù)測試儀
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準(zhǔn)確、操作簡單、使用方便,適用電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來料檢測。
※ 測量元件類型:三極管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數(shù):
光耦參數(shù)測試儀
參數(shù)指標(biāo)表:
|
參數(shù)項 |
測試參數(shù) |
測試條件設(shè)置 |
|
輸入正向壓降(VF) |
0-2.000V |
0-400MA |
|
耐壓(BVCEO) |
0-1200V |
0-2.000MA |
|
傳輸比(CTR) |
0-3000 |
VCE:0-20V IC:0-2.000A |
|
飽和壓降(Vsat) |
0-2.000V |
IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
聯(lián)系人：王汝玄
聯(lián)系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
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郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區(qū)興貿(mào)三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網(wǎng)址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789
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